National Instruments presenta nuevos niveles de productividad con LabVIEW 2011
National Instruments ha presentado NI LabVIEW 2011, la versión correspondiente al 25º aniversario de su premiado software de diseño de sistemas. LabVIEW que acelera la productividad de los ingenieros y científicos que desarrollan e implementan sistemas de medida y control para resolver algunos de los mayores desafíos del mundo de la ingeniería.

LabVIEW 2011 puede incrementar drásticamente la eficiencia del desarrollo mediante las nuevas librerías específicas de ingeniería y su capacidad de interactuar con casi cualquier dispositivo de hardware sobre el que se realice el despliegue, incluyendo el nuevo controlador multi-núcleo de NI CompactRIO y el NI PXIe-5665, uno de los analizadores vectoriales de señales de RF de más altas prestaciones del mercado. También es compatible con los bloques primarios de las aplicaciones incluidas en el reciente Microsoft®. NET Framework e incluye numerosas funciones sugeridas por los usuarios. Con estas y otras ventajas, LabVIEW 2011 ayuda a los ingenieros a integrar los componentes individuales del sistema en una única y reconfigurable plataforma para que puedan hacer su trabajo más rápido, mejor y a menor costo.
"Hace veinticinco años creamos LabVIEW para ayudar a los ingenieros a centrarse en la innovación en lugar de luchar con los problemas de programaciones complicadas y de integración de sistemas y actualmente, se ha convertido en el software de diseño de sistemas más importante en las aplicaciones de medida y control", dijo Jeff Kodosky, miembro del negocio y tecnología de National Instruments, co-fundador e inventor de LabVIEW. "Con cada nueva versión, ya sea por asegurar la integración con el hardware más reciente introduciendo nuevas librerías y APIs o por implementar las características requeridas por la ingeniería, nuestro principal objetivo sigue siendo incrementar la productividad en cualquier situación de la ingeniería."
LabVIEW 2011 hace posible que los ingenieros consigan importantes incrementos de productividad en diversas tareas, incluyendo las siguientes funciones de ahorro de tiempo:
- Desarrollar rápidamente de una manera visualmente impactante interfaces de usuario contemporáneas con una nueva paleta 'Silver' de controles e indicadores
- Reutilizar el código con soporte para los últimos bloques primarios de las aplicaciones .NET, estructuras '.m' y el nuevo Xilinx IP para el módulo LabVIEW FPGA.
- Incrementar hasta un máximo de cinco veces la rapidez de carga, cableado, edición y compilación del código de FPGAs
- Crear y distribuir mediante programación ficheros ejecutables para los objetivos del despliegue
- Generar subprocesos asíncronos para crear con más rapidez aplicaciones multiproceso con una nueva API de comunicación
Gracias a su estabilidad para aplicaciones en misiones críticas, así como para su integración simplificada con el hardware de muchos líderes del mercado, LabVIEW 2011 ofrece a los diseñadores de sistemas de medida y control la confianza para innovar de manera eficiente dentro de una infraestructura de soporte ya probada.
"Al utilizar LabVIEW, se redujo en un tercio el tiempo de desarrollo del sistema en comparación con el tiempo que dedicábamos con los métodos tradicionales", dijo Glenn Larkin, un ingeniero de NIF (National Ignition Facility) perteneciente al Lawrence Livermore National Laboratory, sede de investigación de la fusión avanzada y de uno de los láseres más potentes del mundo. "Tenemos previsto ampliar el uso del software LabVIEW y del hardware de NI en muchas instalaciones que soportan al NIF, así podremos hacer realidad estos mismos incrementos de productividad en futuros proyectos."
Cuando se combina con hardware modular, el software LabVIEW 2011 es la pieza central del método de NI para el diseño gráfico de sistemas, lo cual proporciona una plataforma unificada dedicada al diseño, creación de prototipos y despliegue de aplicaciones con la máxima eficacia. Los ingenieros y científicos de prácticamente todas las industrias están utilizando el diseño gráfico de sistemas tanto para aplicaciones de medidas básicas como para los más complejos proyectos de investigación avanzada.
