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NI convoca a una una nueva edición de NIDays España


La evolución de los tests y pruebas en el entorno IIoT de la mano de LabView centrarán buena parte de los contenidos del evento de National Instruments.

NI convoca a una una nueva edición de NIDays España

National Instruments convoca a su reunión anual de usuarios, el NIDays España, el próximo 18 de octubre en Madrid. El evento está diseñado para desarrolladores y usuarios de sistemas de prueba, medida o control, así como a profesionales especializados en sistemas embebidos, responsables de programas de prueba, además de profesores e investigadores. El foro ofrecerá dos sesiones plenarias impartidas por expertos de National Instruments, y además, se ofrecerán diversas sesiones técnicas, de certificación, un área de exposición y un área práctica donde probar los productos de la firma.

En relación a las conferencias plenarias, la primera de la jornada abordará el diseño y desarrollo de test e implementaciones de prueba a través de casos de éxito de NI. Por la tarde, los asistentes podrán conocer todas las novedades tecnológicas de la compañía, centrandose sobre todo en la evolución de la plataforma LabView como elemento clave de esta apuesta. Se presentarán los nuevos componentes de software que permiten configurar medidas, gestionar sistemas distribuidos en entornos IIoT, procesar datos e utilizar tecnologías web en el proceso.

Las sesiones tecnológicas estarán centradas en diferentes aspectos de la tecnología LabView, la adquisición de datos y control y test de prueba. En el primero de los tracks se tratarán cuestiones como las principales novedades de la plataforma, las posibilidades para comunicar sistemas distribuidos en el IIoT y qué se puede esperar de LabVIEW NXG 2.0. Para las sesiones de datos y control están previstas conferencias centradas en la programación de una aplicación DAQ distribuida, consideraciones prácticas para conectar LabVIEW al IIoT, así como dos sesiones prácticas con clientes de National Instruments que ya han abordado este desafío. En relación a tests, se prevé abordar la configuración base de un sistema de pruebas (ATE) y sus componentes, La evolución de las pruebas en sistemas de avión –de la mano de Airbus–, el Diseño de técnicas MIMO para 5G y cómo construir un sistema de test automatizado con LabVIEW y PXI. Para complementar estos contenidos en la zona expo habrá un área práctica guiada de LabVIEW con CompactRIO, CompapctDAQ, NI myRIO y NI USRP.

Para finalizar, durante la jornada, los profesionales interesados podrán certificarse gratuitamente en "LabVIEW Associate Developer (CLAD)", el primero de los tres niveles de certificación disponibles para LabVIEW y "Certified LabVIEW Developer (CLD)", el segundo de los tres niveles de certificación disponibles para esta tecnología que valida el conocimiento para desarrollar una aplicación LabVIEW que utilice patrones de diseño y de desarrollo correctos como el uso de máquinas de estado y el desarrollo de aplicaciones documentadas.

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