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Unidad de medida de fuente PXI de mayor precisión

National Instruments presenta la unidad de medida de fuente (SMU) PXIe-4135 con una sensibilidad de medida de 10 fA y una salida de tensión de hasta 200V

Unidad de medida de fuente PXI de mayor precisión

La unidad de medida de fuente SMU PXIe-4135 de National Instruments permite medir señales de baja corriente aprovechandi la gran densidad de canal, el rendimiento de la prueba rápida y la flexibilidad de las SMU PXI de NI para aplicaciones como por ejemplo prueba paramétrica en discos, investigación de materiales y caracterización de CI y sensores de poca corriente.

Según Dr. Bart De Wachter, investigador del IMEC “Nuestras pruebas paramétricas en línea hacen que tengamos que adquirir millones de puntos de datos, a menudo con corriente de fuga en el intervalo de picoamperios. Con la nueva SMU PXI de NI nos permite medir con precisión estas señales de baja corriente y beneficiarnos de las mejoras de velocidad que ofrece la plataforma PXI y la flexibilidad de programar el sistema con LabVIEW.”

Se pueden utilizar SMU PXI modulares para crear sistemas paralelos de hasta 68 canales de SMU en un solo chasis PXI que puede escalar a cientos de canales. ASe puede aumentar el rendimiento de la prueba aprovechando un bus de comunicación de alta velocidad, secuenciación con hardware determinista y tecnología de lazo de control digital para ajustar de forma personalizada la respuesta de la SMU para cualquier dispositivo que se pruebe.

También pueden controlar la respuesta de la SMU mediante software, que elimina los prolongados tiempos de espera innecesaria para fijar la SMU y ofrece la flexibilidad para ayudar a minimizar la sobreelongación y las oscilaciones incluso con cargas muy capacitivas.

“Para aumentar la complejidad en dispositivos con semiconductores tenemos que volver a pensar en la técnica convencional para las medidas de fiabilidad, caracterización e investigación, y eso ha sido un motivador clave para nuestras inversiones de SMU en PXI”, afirmó Luke Schreier, director de pruebas automatizadas en NI. “Las SMU de NI reducen el tiempo de prueba, aumentan la densidad del canal y ahora ofrecen incluso mejor calidad de medida con sensibilidad de 10 fA”.

Al ofrecer la facilidad de uso que se espera de una SMU de caja, los paneles frontales e interactivos de las SMU PXI de NI pueden utilizarse para realizar medidas básicas y depurar aplicaciones automatizadas. El controlador incluye archivos de ayuda, documentación y programas de ejemplo listos para ejecutar para ayudar a desarrollar código de prueba, e incluye una interfaz de programación que funciona con varios entornos de desarrollo, como C, Microsoft .NET y el software de diseño de sistemas LabVIEW. Los ingenieros también pueden utilizar SMU PXI de NI con el software de gestión de pruebas TestStand de NI, simplificando la creación y el desarrollo de sistemas de prueba en el laboratorio o en la planta de producción.

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