Usamos cookies para mejorar la experiencia de uso de forma constante. Al aceptar este mensaje o continuando con la navegación entendemos que das tu consentimiento para utilizar cookies en todas las páginas de infoplc.net.
Aceptar Política de cookies

Digitalizador PXI de NI y las herramientas de análisis de jitter de LabVIEW

  • Sábado, 02 Febrero 2013

National Instruments (Nasdaq: NATI) ha anunciado hoy el digitalizador NI PXI-5162 y las actualizaciones de LabVIEW Jitter Analysis Toolkit. El digitalizador, gracias a sus 10 bits de resolución vertical y 5 GS/s de velocidad de muestreo, proporciona medidas de alta velocidad con cuatro veces más de resolución vertical que un osciloscopio tradicional de 8 bits.

Gracias a su ancho de banda de 1,5 GHz y a sus cuatro canales en un slot, el NI PXI-5162 resulta ideal para los sistemas de digitalización que requieren un número elevado de canales para las pruebas de fabricación, investigación y caracterización de dispositivos. Los ingenieros pueden utilizar el digitalizador con LabVIEW y LabVIEW Jitter Analysis Toolkit, que ofrece una biblioteca de funciones optimizada para realizar las medidas de alto rendimiento de jitter, diagramas de ojo y ruido de fase exigidos en los entornos de validación automática y pruebas de producción.

"La combinación de medidas de alta velocidad, elevado número de canales y alta resolución que ofrece el digitalizador NI PXI-5162 permite a los clientes tradicionales de osciloscopios pensar más allá de los instrumentos tradicionales en el caso de las pruebas automáticas", dijo Steve Warntjes, director de investigación y desarrollo de los instrumentos modulares de NI. "El uso de nuestros digitalizadores de alta velocidad junto con LabVIEW Jitter Analysis Toolkit ayuda a los ingenieros a acelerar sus sistemas de medida utilizando la potencia de procesamiento de los ordenadores modernos en lugar de los antiguos procesadores embebidos de los osciloscopios tradicionales."

Características de NI PXIe-5162

· 10 bits de resolución vertical para una mejor definición de la señal.

· Cuatro canales en una solo slot 3U PXI Express, con capacidad de ampliación a 68 canales en un solo chasis PXI.

· Velocidad de muestreo máxima de 5 GS/s en un canal ó 1,25 GS/s en cuatro canales simultáneamente.

Características de LabVIEW Jitter Analysis Toolkit

· Funciones integradas para la recuperación de reloj, diagrama ojo, jitter, medidas de nivel y tiempo.

· Programas de ejemplo para diagramas de ojo y pruebas de máscaras y separación del jitter aleatorio y determinista (RJ/DJ) utilizando métodos de separación dual-Dirac y basados en el espectro.

Más información:

/noticias/marcas/47-national-instruments
National Instruments Spain
Europa Empresarial
C/ Rozabella,2 Edif Berlín 1ª PL
28290 Las Rozas - Madrid

Tel: +34 91 640 00 85 
Fax: +34 91 640 05 33

ni.spain@ni.com 
www.spain.ni.com

Adquisición de datos  
Automatización industrial
Instrumentación
Diseño y prototipado
Control de movimiento 
Visión artificial
Hardware embebido
Comunicaciones industriales






>